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IQMT-100 Bauform gemäß Industriestandard
MTIE/TDEV Tests möglich		7.0 x 5.0mm10 to 50MHz±50ppb-40 to 85°CClipped Sine
HCMOS		3.3VIQMT-100
IQOV-71 Hohe Stabilität
Kleine Bauform
kundenspezifisches Design
MTIE/TDEV Tests möglich		9.7 x 7.5mm5 to 50MHz±10ppb-40 to 85°CClipped Sine
HCMOS		3.3V
5V		IQOV-71
IQOV-162 ausgezeichnete Kurzzeitstabilität
Lieferproblem. Kontaktieren Sie unser Team
MTIE/TDEV Tests möglich		14.0 x 9.0mm10 to 100MHz±10ppb-40 to 85°CHCMOS
Sinewave		3.3VIQOV-162
IQOV-90 Geringer Jitter/ Phasenrauschen
Hohe Stabilität
MTIE/TDEV Tests möglich		25.0 x 22.0mm10 to 40MHz±3ppb-40 to 75°CHCMOS
Sinewave		3.3V
5V
12V		IQOV-90
IQOV-164 Hohe Stabilität
MTIE/TDEV Tests möglich		36.0 x 27.0mm5 to 100MHz±0.2ppb-40 to 85°CHCMOS
Sinewave		3.3VIQOV-164

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