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IQXT-120 kundenspezifisches Desing14-pin DIL1 to 800MHz±0.28ppm-40 to 85°CHCMOS3.3V
5V
IQXT-120
IQXT-350 Kleine Bauform
Niederspannung
1.6 x 1.2mm26MHz
52MHz
±0.5ppm-40 to 85°CClipped Sine1.8VIQXT-350
IQXT-351 Kleine Bauform
Niederspannung
1.6 x 1.2mm26MHz
52MHz
±0.5ppm-40 to 85°CClipped Sine1.8VIQXT-351
IQXT-270 Kleine Bauform
kundenspezifisches Desing
Niederspannung
2.0 x 1.6mm13 to 52MHz±0.5ppm-40 to 85°CClipped Sine1.8 to 3VIQXT-270
IQXT-272 Kleine Bauform
kundenspezifisches Desing
Temperatursensorausgang
2.0 x 1.6mm13 to 52MHz±0.5ppm-40 to 85°CClipped Sine1.8 to 3VIQXT-272
IQXT-194 Bauform gemäß Industriestandard
Kleine Bauform
Niederspannung
2.5 x 2.0mm16 to 52MHz±1ppm-30 to 85°CClipped Sine1.8V
2.5V
2.8V
3V
3.3V
IQXT-194
IQXT-260 Geringe strom
Kleine Bauform
kundenspezifisches Desing
2.5 x 2.0mm10 to 52MHz±0.5ppm-40 to 85°CClipped Sine1.8 to 3.3VIQXT-260
IQXT-191 Bauform gemäß Industriestandard
Kleine Bauform
Niederspannung
3.2 x 2.5mm8.192 to 40MHz±2.5ppm-30 to 85°CClipped Sine
CMOS
2.5V
2.8V
3V
3.3V
IQXT-191
IQXT-192 Kleine Bauform
Niederspannung
3.2 x 2.5mm8.192 to 52MHz±1ppm-30 to 85°CClipped Sine1.8V
2.5V
2.8V
3V
3.3V
IQXT-192
IQXT-220 Hohe Stabilität
Kleine Bauform
3.2 x 2.5mm10 to 40MHz±0.28ppm-40 to 85°CClipped Sine3.3V
IQXT-274 Hohe Stabilität
Kleine Bauform
kundenspezifisches Desing
3.2 x 2.5mm10 to 40MHz±0.5ppm-40 to 85°CClipped Sine2.5V
2.8V
3V
3.3V
IQXT-274
IQXT-275 Kleine Bauform
kundenspezifisches Desing
Niederspannung
3.2 x 2.5mm10 to 40MHz±1ppm-40 to 85°CClipped Sine1.8 to 3VIQXT-275
STXO A 2.5V Erhältlich gemäß Militärspezifikation geprüft
hohe Umweltstandards
Hohe Zuverlässigkeit
niedriges Jitter
3.2 x 2.5mm10 to 55MHz±5ppm-55 to 125°CCMOS2.5V
STXO A 3.3V Erhältlich gemäß Militärspezifikation geprüft
hohe Umweltstandards
Hohe Zuverlässigkeit
niedriges Jitter
3.2 x 2.5mm10 to 55MHz±5ppm-55 to 125°CCMOS3.3V
CFPT-127 Bauform gemäß Industriestandard5.0 x 3.2mm16.32 to 33.6MHz±0.5ppm-40 to 85°CClipped Sine3VCFPT-127
CFPT-9301 Hohe Stabilität
MTIE/TDEV Test’s möglich
5.0 x 3.2mm1.5 to 52MHz±0.2ppm-40 to 85°CHCMOS3.3VCFPT-9301
CFPT-9302 Hohe Stabilität
MTIE/TDEV Test’s möglich
5.0 x 3.2mm12 to 52MHz±0.2ppm-40 to 85°CClipped Sine3VCFPT-9302
IQXT-190 Bauform gemäß Industriestandard
Niederspannung
5.0 x 3.2mm6.4 to 40MHz±2.5ppm-30 to 85°CClipped Sine
CMOS
2.5V
2.8V
3V
3.3V
IQXT-190
IQXT-210 Bauform gemäß Industriestandard
Hohe Stabilität
kundenspezifisches Desing
MTIE/TDEV Test’s möglich
5.0 x 3.2mm10 to 50MHz±0.05ppm-40 to 85°CClipped Sine
HCMOS
3.3VIQXT-210
IQXT-311 Hohe Stabilität
niedriges Jitter
niedriges Phasenrauschen
5.0 x 3.2mm1.25 to 52MHzSee Spec-55 to 105°CClipped Sine
HCMOS
Sine
3.3V
5V
IQXT-313 Hohe Stabilität
niedriges Phasenrauschen
5.0 x 3.2mm5 to 52MHzSee Spec-40 to 85°CClipped Sine
HCMOS
2.7 to 5.5V
IQXT-318 Hohe Stabilität
niedriges Jitter
niedriges Phasenrauschen
5.0 x 3.2mm19.2 to 40MHzSee Spec-40 to 85°CClipped Sine
HCMOS
3.3V
CFPT-125 Bauform gemäß Industriestandard7.0 x 5.0mm10 to 40MHz±0.9ppm-20 to 70°CHCMOS3.3VCFPT-125
CFPT-126 Bauform gemäß Industriestandard
Hohe Stabilität
7.0 x 5.0mm10 to 40MHz±0.5ppm-40 to 85°CHCMOS3.3VCFPT-126
CFPT-37 Hohe Stabilität7.0 x 5.0mm10 to 40MHz±0.9ppm-20 to 70°CHCMOS3.3VCFPT-37
CFPT-9001 Hohe Stabilität
MTIE/TDEV Test’s möglich
7.0 x 5.0mm1.25 to 40MHz±0.3ppm-40 to 85°CHCMOS5VCFPT-9001
CFPT-9003 Hohe Stabilität
MTIE/TDEV Test’s möglich
7.0 x 5.0mm10 to 40MHz±0.3ppm-40 to 85°CSine5VCFPT-9003
CFPT-9005 Hohe Stabilität
MTIE/TDEV Test’s möglich
7.0 x 5.0mm10 to 40MHz±0.3ppm-40 to 85°CClipped Sine5VCFPT-9005
CFPT-9006 Hohe Stabilität
MTIE/TDEV Test’s möglich
7.0 x 5.0mm1.25 to 40MHz±0.3ppm-40 to 85°CHCMOS3.3VCFPT-9006
CFPT-9007 Hohe Stabilität
MTIE/TDEV Test’s möglich
7.0 x 5.0mm10 to 40MHz±0.3ppm-40 to 85°CSine3.3VCFPT-9007
CFPT-9008 Hohe Stabilität
MTIE/TDEV Test’s möglich
7.0 x 5.0mm10 to 40MHz±0.3ppm-40 to 85°CClipped Sine3.3VCFPT-9008
E2747 Stratum 37.0 x 5.0mm12.8MHzSee Spec-20 to 70°CHCMOS3.3VE2747
E2791 Stratum 37.0 x 5.0mm20MHzSee Spec-20 to 70°CHCMOS3.3VE2791
E2799 SONET7.0 x 5.0mm12.8MHzSee Spec-40 to 85°CHCMOS3.3VE2799
E3179LF Stratum 37.0 x 5.0mm20MHzSee Spec-5 to 80°CHCMOS3.3VE3179LF
E3198 Stratum 37.0 x 5.0mm12.8MHzSee Spec-40 to 85°CHCMOS3.3VE3198
E3199LF Stratum 37.0 x 5.0mm20MHzSee Spec-40 to 85°CHCMOS3.3VE3199LF
IQMT-100 Bauform gemäß Industriestandard
MTIE/TDEV Test’s möglich
Multiple-Pad-Versionen
7.0 x 5.0mm10 to 50MHz±0.05ppm-40 to 85°CClipped Sine
HCMOS
3.3VIQMT-100
IQXT-200 Bauform gemäß Industriestandard
kundenspezifisches Desing
MTIE/TDEV Test’s möglich
Multiple-Pad-Versionen
7.0 x 5.0mm10 to 50MHz±0.28ppm-40 to 85°CClipped Sine
HCMOS
3.3VIQXT-200
IQXT-314 Hohe Stabilität
niedriges Jitter
niedriges Phasenrauschen
7.0 x 5.0mm1.25 to 52MHz±0.05ppm-55 to 105°CClipped Sine
HCMOS
Sine
3.3V
5V
IQXT-315 Hohe Stabilität
niedriges Jitter
niedriges Phasenrauschen
7.0 x 5.0mm10 to 40MHzSee Spec-40 to 85°CHCMOS3.3V
IQXT-316 Hohe Stabilität
niedriges Jitter
niedriges Phasenrauschen
7.0 x 5.0mm19.2 to 40MHzSee Spec-40 to 85°CClipped Sine
HCMOS
3.3VIQXT-316
IQXT-317 Hohe Stabilität
niedriges Phasenrauschen
7.0 x 5.0mm5 to 52MHzSee Spec-40 to 85°CClipped Sine
HCMOS
2.7 to 5.5V
IQXT-312 niedriges Phasenrauschen14.0 x 9.0mm10 to 30MHzSee Spec-55 to 105°CClipped Sine
HCMOS
3.3V
5V
IQXT-100 kundenspezifisches Desing20.0 x 13.0mm1 to 800MHz±0.28ppm-40 to 85°CHCMOS
Sinewave
3.3V
5V
IQXT-100
IQXT-130 kundenspezifisches Desing20.0 x 20.0mm1 to 800MHz±0.28ppm-40 to 85°CHCMOS
Sinewave
3.3V
5V
IQXT-130
IQXT-140 12V geringe Alterung
Hohe Stabilität
niedriges Phasenrauschen
36.0 x 27.0mm2 to 150MHz±1ppm-40 to 85°CHCMOS
Sinewave
12VIQXT-140 12V
IQXT-140 3.3V geringe Alterung
Hohe Stabilität
niedriges Phasenrauschen
36.0 x 27.0mm2 to 150MHz±1ppm-40 to 85°CHCMOS
Sinewave
3.3VIQXT-140 3.3V
IQXT-140 5V geringe Alterung
Hohe Stabilität
niedriges Phasenrauschen
36.0 x 27.0mm2 to 150MHz±1ppm-40 to 85°CHCMOS
Sinewave
5VIQXT-140 5V
CFPT-141 Not Recommended For New Designs
5.0 x 3.2mm10 to 30MHz±1.5ppm-40 to 85°CClipped Sine3VCFPT-141
CFPT-123 Not Recommended For New Designs
7.0 x 5.0mm10 to 26MHz±1.5ppm-40 to 85°CClipped Sine3VCFPT-123